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自动化测试应用中的FPGA
开放式的用户可编程FPGA可以用于解决全新的应用挑战。在FPGA测试技术的关键应用领域闭环测试系统中，测试系统必须向被测设备（DUT）提供实时反馈，来模拟真实世界的状态变化，而这就需要使用具有硬件级响应速度的基于FPGA的设备。以RFID标签测试为例，其测试系统必须模拟RFID读卡器，以不超过25 μs的延迟与标签进行协议交互。有些自动化测试系统要求极高的数据处理能力，这也是FPGA的全新应用领域。宽带实时频谱分析仪需要对采集到的数据进行连续傅立叶变换（FFT），如图1所示，只有通过FPGA对信号进行协处理才能满足这些用户自定义分析需求的吞吐量。 百度 其中，受访者对“国人不文明行为”有损中国国际形象的认同度增长最为显著，与去年相比增加个百分点。
图1：基于高性能FPGA可以实现高带宽实时频谱分析仪等强大测试仪器
表1：三种基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模块参数 
最新基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模块利用更强大的FPGA、更大的板载内存、增强的同步特性和高性能的数据吞吐量，进一步延伸了自动化测试系统的功能极限。
NI最新发布了基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模块——NI PXIe-7961R、NI PXIe-7962R、NI PXIe-7965R。三款NI FlexRIO FPGA模块集成了针对数字信号处理应用的高性能Xilinx Virtex-5 SXT FPGA与高达512 MB的板载DRAM，详细信息见表1。您可以将它们作为独立协处理器使用，将计算负荷从主处理器移到FPGA上，在主处理器和FPGA之前平衡运算负担，从而取得更优的系统性能。NI同时还发布了多个NI FlexRIO适配器模块，为FPGA提供了灵活的I/O。NI FlexRIO FPGA模块的用户可以结合使用这些提供了高性能模拟或数字I/O的适配器模块，创建基于FPGA的仪器。
图2：全新的基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模块可以与例如NI 5781基带收发器等I/O适配器模块进行交互
这三款NI PXIe-796xR设备不仅是使用PXI Express技术的首批FlexRIO FPGA模块，同时还集成了全新NI-STC3 ASIC，能够在多个FPGA模块之间或是在基于PXI Express的数字化仪和FPGA模块之间直接进行数据流传送（亦称作点对点数据流）。这一功能可避免将大量数据先传送回主处理器，再传给目标板卡，从而可以帮助用户利用高性能NI数字化仪建立基于FPGA的仪器。将设备与NI PXIe-5122数字化仪一起使用，可以将两个通道，以100 MS/s全采样速率或400 MS/s总采样速率传送到PXI Express NI FlexRIO FPGA中。您还可以将NI PXIe-5622中频（IF）数字化仪或NI PXIe-5663矢量信号分析仪的数据，以最大75 MS/s的I/Q速率或300 MS/s的总速率传送到NI FlexRIO FPGA模块进行处理。对于大多数计算要求高的应用而言，您可以将运算量平均到多个FPGA上，以超过800 MB/s的速率从一个FPGA传送到另一个FPGA，或是以每个方向700 MB/s的速率双向（总模块吞吐量超过1.4 GB/s）进行点对点数据传输。
表2：NI和NI联盟合作伙伴提供了多个全新的NI FlexRIO适配器模块 
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