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人工智能 （AI） 有可能改变产品生命周期的每个阶段，从设计和制造到运营和维护。虽然这种说法似乎很明显，但测试和测量产品和流程的确切情况仍然成为焦点（图 1）。正如在测试和测量这样一个众所周知的保守行业中所预料的那样，迄今为止，AI 主要用于适度的、渐进的改进。解析文档以帮助用户设置和作产品的工具显然是一个起点。更进一步，一些产品现在提供基于 AI 的功能，例如神经网络，或针对特定参数的基于 AI 的优化。对于管理大型数据集的科学家和工程师来说，用于后处理、检测异常、跟踪趋势和指导决策的软件工具非常强大，
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AI 测试 测量 仪器
意法半导体（ST）推出了一款传感器，该传感器将惯性测量单元（IMU）与嵌入式人工智能相结合，并针对活动跟踪和高冲击测量进行了优化。LSM6DSV320X 传感器是行业首创的常规尺寸模块，尺寸为 3 x 2.5 mm，内置 AI 处理功能，可连续记录运动和冲击。创新的双加速度计设备可确保高达 16 克的活动跟踪和高达 320 克的冲击检测的高精度。这两个加速度计采用意法半导体独有的先进技术，旨在实现共存和最佳性能。其中一款加速度计经过优化，可在活动跟踪中实现最佳分辨率，最大范围为 ±16g。另一个加速度计可
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活动跟踪 高g冲击 测量 传感器 ST IMU LSM6DSV320X
典型的半导体电容在pF或nF范围内。许多商业上可用的LCR表或电容计补偿后可以使用适当的测量技术来测量这些值，然而，一些应用需要在飞秒法（fF）或1e-15范围内进行非常灵敏的电容测量。这些应用包括测量金属到金属的电容，晶片上的互连电容，MEMS器件，如：开关，纳米器件端子之间的电容。如果没有使用适当的仪器和测量技术，这些非常小的电容很难进行测量。使用4200A-SCS参数分析仪配备的4215-CVU（CVU），用户能够测量大范围的电容，<1pF非常低的电容值也能测到。CVU采用独特的电路设计，并由
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电容 测量
发光二极管主要部分也是一个PN结，但是发光二极管导通后，其压降一般都是2V左右，有的发光二极管的压降可以达到3V。一般的普通二极管压降也就0.5V左右，比如肖特基二极管。发光二极管一般用作指示灯。比如电源指示灯，通信指示灯，比如串口收发数据时，通过发光二极管闪烁，来表示正在收发数据。在电路设计中，需要串联一个限流电阻。这个限流电阻的大小如何取值？首先我们应该知道发光二极管的正向电压、正向电流。某一个发光二极管的正向电压为2.5V，正向电流为5mA，这个正向电流有个取值范围，电流太大，可能烧毁二极管，电流太
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发光二极管 万用表 测量 电路设计
本指南将介绍如何使用泰克8通道5系列B MSO示波器的逆变器、电机和驱动器分析软件对变频驱动器的输入、直流母线和输出进行稳定、准确的电气测量，以及对电机进行机械测量。大多数现代电机驱动系统使用某种调制形式来控制电机频率，从而控制电机速度。在大多数情况下，此类变频驱动器 (VFD) 通过输出精心控制的脉冲宽度调制 (PWM)波形来实现这一点。此类系统通常以三相形式输出功率，因为三相是电机的最佳配置。自电气工程诞生以来，三相交流感应电机(ACIM) 一直是工业领域的主力。它们可靠、高效、成本低且几乎不需要维护
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三相电机 驱动器 测量
抖动话题是示波器测量的最高境界，也是最风云变换的一个话题，这是因为抖动是示波器测量的诸多功能中最和“数学”相关的。 玩数学似乎是需要一定境界的。 1，抖动和波形余辉的关系有一种比较传统的测量抖动的方法，就是利用余辉来查看信号边沿的变化，然后再用光标测量变化的大小（如图1所示）。后来高端一点的示波器具有“余辉直方图”的功能，利用余辉直方图和相关参数可以自动测量出信号边沿变化的余辉的变化范围。
在上个世纪90年代初示波器有了真正意义的“测量统计”功能之后，这个方法就逐渐被淘汰了。&n
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抖动 示波器 测量
Boen提倡采用全面的协作方法来推进AI/ML技术，她认为创新对于促进社会进步至关重要，可以改变我们的工作和生活方式。她的理由是，技术开发能够促使该行业推出新的市场解决方案。泰克战略技术和先进集成电路 (AICS) 总监Sarah Boen与Electronic Specifier对话，以下内容为本文对话要点。测试和测量行业在过去十年中取得了巨大发展，目前有哪些关键变化正在改变行业格局？过去二十年，我有幸在测试和测量行业工作，我想说，该行业当前充满了巨大且振奋人心的变化。测试和测量行业过去提供通用解决方案
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高光谱成像技术是近些年来迅速发展起来的、一种全新的影像分析检测技术,它是集图像传感器、精密光学，精密机械、计算机信息处理技术于一体的综合性技术。在高光谱数据采集过程中,成像光谱仪以纳米级的光谱分辨率,以几十或几百个波段对检测目标成像,形成海量数据的数字影像集（也称数据立方体Data Cube），实现了目标的光谱信息、空间信息及辐射信息的同步获取,因而在目标检测和目标识别领域具有巨大的应用价值和广阔的发展前景。高光谱成像相比传统的影像技术有以下的优点在相应的光谱范围内，具有上百个光谱通道的影像数据，影像上每
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MV.C机器视觉 检测 测量
引言 在许多应用中，无法通过实际接触来测量与目标之间的
距离。典型示例包括测量物流中心的传送带上是否存在
物体，确保与运动中的机械臂保持安全距离，确定仓库
中人员或机器人相对于资产的位置。飞行时间 (ToF) 位
置传感器有助于利用光线到达物体及返回所需的时间来
测量距离。OPT3101 是高速、高分辨率 AFE 的一个
典型示例，适用于完全集成且基于 ToF 的连续波位置
传感器。该传感器可在 15m 不模糊的范围内实现 16
位距离输出。有关 OPT3101 的更多信息，请参
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ToF 位置传感器 测量
Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq：DIOD) 今日宣布推出一系列采用高稳定性零点漂移架构的双向电流显示器。这些装置能够在广泛的共模电压范围内准确测量极低感测电压。主要产品应用项目包括笔记本电脑、电池充电器、工业伺服装置、服务器、服务器农场中的电源机架和机器人系统。ZXCT199 系列电流显示器装置有六款产品可供选择，每一款都有一个高精准运行的精密截波稳定运算放大器。其低补偿电压使得电流感应在分流器上的最大压降，低至 10mV 满刻度。这么一来便能使用平价、低值的分流电阻器组件来测量大电
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人工智能（AI）算法包含三个基本核心要素：1) 具备测量能力；2) 知道其中有多少测量需要进一步处理；3) 并行处理多路输入的能力。是德科技全球企业和产品营销副总裁 Jeff Harris系统的潜力是指它的可测性以及可达到的测量深度，而潜力的发挥则指的是决定系统必须将哪些方面的测量结果发送给处理器进一步处理。最后，传感器融合指的是了解如何以正确的比例将不同传感器的测量结果合并在一起，算法的智商有多高，推理的潜力有多大，这是我们探索的关键。通过反馈环路增强传感器融合，算法将能够校验和纠正自身的逻辑
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近日，罗德与施瓦茨宣布推出全新高性能 R&S ADD597 测向和监测一体化天线系统。该系统是固定、移动和可搬移式频谱监测站的关键组件。R&S ADD597结合使用单通道测向机，即使在密集频谱环境中也能提供可靠的测量结果。系统提供从 20 MHz 至 8.5 GHz（垂直极化）和 20 MHz 至7.5 GHz（水平极化） 频率范围的高精度测向能力。 R&S ADD597 具有高精度
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罗德与施瓦茨 测量 一体化天线
图：新版imc WAVE 2022与imc CRONOSflex测量模块，联手提供性能卓越的NVH数据分析。 imc 测试测量面向全球用户，发布其全新版 imc WAVE 2022 — 这是一款功能强大声学与振动的软件，联合性能卓越的imc数据采集系统，进行符合标准的噪声与振动分析。imc WAVE 2022由四个可相互组合的分析仪组成，根据标准提供声功率评估、结构分析、振动和旋转机械等综合分析功能。软件操作简单，只需几步就能指导用户从配置、校准、测量到专业报告，缩短设置时间，并快速、安全地为N
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I.?前言本文旨在解决硅衬底上的污染问题，将讨论三种不同的金属污染。第一个是镍扩散，又称为快速扩散物质[1]，它是从晶圆片边缘上的一个污点开始扩散的金属污染。第二个是铬污染，它是从Bulk体区内部扩散到初始氧化膜[2]，并在晶圆片上形成了一层较厚的氧化物。第三个是晶圆片边缘周围的不锈钢污染。本文的研究目的是根据金属和图1所示的污染特征找到污染的根源。图1 三个金属污染示例的映射图。从左至右：镍扩散的微掩膜缺陷图；较厚的铬氧化沉积层；晶圆片边缘上不锈钢污染电子晶圆片检测(EWS)映射图AI.&nb
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金属污染 测量 热处理 SPV TXRF
激光雷达(LiDAR)通常指「检测和测距」，是一种革命性的扫描和测量工具。但苹果(Apple) 的激光雷达无法达到可用于户外测量和扫描专业激光雷达的水平，不过可以测量到距离5米的周围物体以及进行人员位置的追踪。光电协进会（PIDA）认为，激光雷达的深度感测与苹果的景深摄镜头以及先进的影像算法相结合，有可能在未来成为强大的扫描平台，而这些元素的紧密整合可为iPad Pro带来了全新的AR体验。苹果的LiDAR只要与Measurement App配合使用，将可进行3D扫描、空间测量、物体辨识和分类，主要是针对
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苹果 LiDAR 测量 空间3D扫描
测量介绍
测量的概念
所谓测量，是指用实验的方法，将被测量（未知量）与已知的标准量进行比较，以得到被测量大小的过程；是对被测量定量认识的过程。
测量的定义
1.早期的定义：研究地球的形状和大小，确定地面点的坐标的学科。
2.当前的定义：研究三维空间中各种物体的形状、大小、位置、方向和其分布的学科。
测量学的内容包括测定和测设两个部分。测定是指使用测量仪器和工具，通过测 [
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