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集成电路封装测试是确保芯片性能与可靠性的核心环节，主要包括?晶圆级测试（CP测试）?和?封装后测试（FT测试）?两大阶段，流程如下：
一、晶圆级测试（CP测试）
1.?测试目的?：在晶圆切割前筛选出功能缺陷或性能不达标的晶粒（Die），避免后续封装环节的资源浪费，显著降低制造成本。
2.?核心设备与操作?
l ?探针台（Prober）?：通过高精度移动平台将探针与晶粒的Pad jing准接触，实现电气连接。
l ?ATE测试机?：提供测试电源、信号输入及功能向量，接收晶粒反馈信号以判定其良率（例如检测漏电流、阈值电压等参数）。
l ?探针卡（Probe Card）?：根据芯片Pad布局定制，确保ATE信号与晶粒引脚导通。
3.?输出结果?
生成晶圆缺陷图（Wafer Map），标记**晶粒（如打墨点），供后续封装环节剔除。
二、封装流程关键步骤
1.?前段处理?
l ?晶圆减薄?：通过背面研磨将晶圆厚度调整至封装要求（如100μm以下），并粘贴保护胶带防止电路损伤。
l ?晶圆切割?：用金刚石刀片或激光切割将晶圆分割为独立晶粒，清洗后去除残留碎屑。
2.?核心封装工艺?
l ?芯片贴装（Die Attach）?：将晶粒固定在基板或框架上，通过银浆或焊料实现机械固定与导热。
l ?引线键合（Wire Bonding）?：用金线/铜线连接晶粒Pad与封装基板引脚，确保信号导通。
l ?塑封成型（Molding）?：使用环氧树脂（EMC）包裹芯片，保护内部结构免受物理和化学损害。
3.?后段处理?
l ?激光打标?：在封装表面刻印型号、批次等信息。
l ?电镀与切割?：对引脚进行电镀处理（如镀锡/镍），增强可焊性，并切除多余塑封材料。
三、封装后测试（FT测试）
1.?功能验证?
l 检测封装后芯片的电气性能（如工作频率、功耗、I/O信号完整性），确保符合设计规格。
l 通过边界扫描（Boundary Scan）等技术验证内部逻辑功能。
2.?可靠性测试?
l ?环境应力测试?：包括高温/低温循环（-55℃至+150℃）、高湿高压（如85℃/85%RH）等，验证芯片寿命与稳定性。
l ?机械强度测试?：如振动、冲击测试，评估封装结构可靠性。
3.?量产终测?
自动化测试设备（ATE）批量执行测试程序，生成测试报告（含良率、失效模式等数据）。
四、技术演进与效率优化
l ?自动化升级?：通过视觉定位系统与机械臂实现探针快速校准，提升CP测试效率（如每小时测试晶圆数量提升30%）。
l ?多芯片并行测试?：支持存储器等芯片的多点同步测试，降低单颗测试成本。
集成电路封装测试通过?晶圆筛选-封装保护-功能验证?的闭环流程，确保芯片性能达标与chang期可靠性。晶圆级测试（CP）与封装后测试（FT）的分段实施，显著降低制造成本（**品处理成本相差10倍以上）。随着探针台精度提升（达±0.1μm）与测试设备智能化，该流程正加速向高集成度、高可靠性方向演进。
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